Nanosurf Flex Axiom AFM Cihazı

  • Cihaz malzemelerin yüzey öxelliklerini X-Y-Z eksenlerinde taramalı uç mikroskobu tekniklerine göre tarama yaparak 2 ve 3 boyutlu olarak görüntüleyebilmektedir. Z de 100µm ile 5mm arasında farklı yüksekliklerde görüntü alabilmektedir.
  • Büyük ya da birden fazla numuneler üzerinde ölçüm yerleri 32 mm x 32 mm numune alanını kapsayan geniş bir görüş alanı taranarak görüntü alınabilmektedir. 
  • Tekli ve çoklu pirin nanosheets ve alt nanometre hassasiyetle yükseklik analizi görüntüleme elde edilir.
  • Cihaz hem atmosfer ortamında hem de sıvıda güvenilir topoğrafik ve meteorolojik görüntüleme elde edebilmektedir.
  • Elektrokimyasal (EC-AFM) sistemi için, ölçümü yapabilecek donanım bulunmaktadır. 
  • Scanning tunneling microscope (STM) ve Tapping mode (Liquid) modlarını bulundurmaktadır. 

 

Nanosurf Flex Axiom AFM Cihazı Teknik özellikleri

Genel tasarım: Tripod stand-alone tarama kafası, eğilme tabanlı elektromanyetik harekete Skyscanner, üretimden bağımsız piezo-tabanlı Z-tarayıcı  

Önek görüntü: Hava ve sıvı içinde üst ve yan görünüm

Örnek aydınlatma: Beyaz LED'ler (parlaklık% 0-100); Üst görünüm için eksenel aydınlatma

Çalışma modları: Statik kuvvet, yanal kuvvet, dinamik kuvvet, faz kontrast, manyetik kuvvet, elektrostatik kuvvet, Kelvin probe kuvvet, serme, termal tarama, direnç, kuvvet modülasyon, çoklu spektroskopisi modları, litografi ve manipülasyon modları. 


Tarama kafası türü:                                                                                   100 μm                                                            10 μm

Örnek boyut                                                                                                sınırsız

Maksimum Petri Kabı Yüksekliği (Sıvı Seviyesi)                                9 mm (6 mm)

Manuel Yaklaşım Aralığı                                                                          30 mm

Otomatik Yaklaşım Aralığı                                                                      1.1 mm

Maksimum Tarama Aralığı                                                                     100 μm                                                                 10 μm 

Maksimum Z-Aralık                                                                                  10 μm                                                                   3 μm  

Z Sürücü  Çözünürlüğü                                                                             0.152 nm                                                           0.046 nm

XY Sürücü  Çözünürlüğü                                                                         1.525 nm                                                            0.152 nm

XY-doğrusallık ortalama hata                                                               < 0.1%

Maksimum tarama mesafeden XY-düzlük                                         typ.5 nm                                                               typ.1 nm

Z-ölçüm gürültü seviyesi (RMS, havadaki statik modu)                 typ.0.3 nm                                                          typ 0.15 nm

Z-measurement noise level (RMS, dynamic mode in air)               typ.0.16 nm                                                        typ 0.06 nm

 



Başa Dön