X-Işını Difraktometresi (XRD) 

            X-Işınları Kırınımı, XRD (X-Ray Diffraction) x-ışınları tarafından oluşturulan kırınım deseninden atomik düzeyde bilgi edinmek için kullanılmaktadır. X-ışınları ölçümleri kristale zarar vermeksizin yapısı hakkında bilgi veren güçlü bir yöntemdir. Bu yöntem ile katı ve toz numunelerin nitel ve nicel analizleri, yapı çözümlenmesi, ince film malzemelerin faz analizleri ve kalınlıklarının belirlenmesi, fazların miktarları, kristal boyurtu, atom pozisyonları, latis parametreleri ve kristal yönlenmesi tayini elde edilebilmektedir.

          X-Işınları kırınımı yöntemi, fizik, kimya, biyoloji, biyokimya, malzeme ve metalurji, jeoloji, madencilik, çimento, seramik ve teknolojik uygulamalarda yaygın olarak kullanılmaktadır. Birçok alanda kullanılan çok amaçlı XRD sistemi ile reflektivite (yansıma) ve küçük açı X ışını saçınımı (SAXS) ölçümleri ince film kalınlığı, yoğunluğu ve yüzeyin pürüzlülüğü, tekstür ve stres analizleri ile Rietveld (yapım çözümleme) analizleri yapılabilmektedir.

UYGULAMA ALANLARI

  • Temel fizik araştırmalarında ve Malzeme biliminde 
  • Metalurjide metal ve alışımların analizde, ince metal ve film kaplama kalınlıkları tayininde
  • Jeolojide kayaçların, killerin ve minerallerin tanımlanmasında ve miktarlarının belirlenmesinde
  • Seramik ve çimento sanayinde yapısı ve özellikleri hakkında bilgi elde etmede
  • Kömürde kül, kükürt ve nem tayininin yapılmasında 
  • Maden filizleri ve Radyoaktif cevher analizlerinde
  • Endistürüde plastik, lastik, kağıt ve cam gibi maddelerdeki safsızlık analizlerinde
  • Petrol ürünleri boya ve ince film analizlerinde
  • Çeşitli bitki türlerinin yapısının incelenmesinde
  • Polimerlerin analizinde
  • İlaç endüstrisinde malzeme içerindeki yapıların ve safsızlıkların belirlenmesinde 
  • Arkeoloji alanında tarihi yapıları oluşturan malzemelerin tayini gibi birçok bilimsel araştırma ve geliştirme alanlarında kullanılabilir.

Başa Dön